Sigma 系列产品用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

• Sigma300产品特点

• 用于清晰成像的灵活探测

  • 利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
    
  • 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
    
  • 利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

  自动化加速工作流程

  • 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
  • 首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
    
  • 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步，将结果可视化。

  高级分析型显微镜

  • 将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
  • 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
  • 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。
  • • Sigma300产品技术资料

  • 分辨率： 1.2nm @15 kV   2.2nm @1kV

    放大倍数：10-1,000,000×

    加速电压：调整范围：0.02-30 kV（无需减速模式实现）

    探针电流： 4pA-20nA （40nA&100nA可选）

    低真空范围： 2-133Pa （Sigma 300VP可用）

    样品室： 365 mm（φ），275mm（h）

    样品台：5轴优中心全自动   

    X=125mm

    Y=125 mm

    Z=50 mm

    T=-10o-90o

    R=360o 连续

    系统控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系统，可选鼠标、键盘、控制面板控制。

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    • Sigma300产品应用领域

  • 扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等 检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分   析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶 粒取向测量。