• 移动和固定测量仪器
• 粗糙度和波纹度测量
• 扫描长度高达 26 mm
• 超过 50 R，W 和 P 表面参数
• 根据标准自动选择截止和扫描长度
• 动态校准功能
• 驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)
• 磁性测头支架（独立测头）BFW 250
• 机动测头归零设置（最大 7.5 mm）

• 技术参数：

• 测量原则	探针法
  输入	BFW 无导块系统
  测量范围 mm	+/- 250 µm（高达 +/- 750 µm，3x 测杆长度）
  轮廓分辨率	测量范围 +/- 250 µm：8 nm 测量范围 +/- 25 µm：0.8 nm
  过滤器符合 ISO/JIS 标准	ISO 11562 标准高斯滤波 ISO 13565 标准滤波
  采样长度数量符合 ISO/JIS	1-5
  接触速度	0,2 mm/s; 1,0 mm/s
  测量力 (N)	0.75 mN
  重量驱动单元	约 0.9 kg
  重量测量仪	约 1.0 kg
  表面参数	超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

  标准配置：

• 
  

• MarSurf M 400 评估仪器
• MarSurf SD 26 驱动装置包含 BFW 250 测头系统
• 标准测杆 (6852403)
• 1 卷热敏纸
• 宽范围电源装置，带 3 个适配器
• 2 x USB 线（用于连接计算机和有线连接）
• 操作说明
• 提供便携手提箱

可选附件：

• 测量立柱

  • ST-D、ST-F 和 ST-G
  • 测量立柱上的支架

  
  其他附件

  • CT 120 XY 工作台，平行虎钳，V 形块
  • 用于带 BFW 测头系统的测杆